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簡(jiǎn)要描述:江蘇尼康金相顯微鏡L300N/L300ND ,FPD/LSI檢查顯微鏡, ECLIPSE L300反射照明型, ECLIPSE L300N 反射型 ,ECLIPSE L300ND 透反射兩用型 。
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品牌 | Nikon/日本尼康 | 價(jià)格區間 | 面議 |
---|---|---|---|
配備圖像分析系統 | 是 | 產(chǎn)品種類(lèi) | 正置 |
產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 應用領(lǐng)域 | 地礦,電子,冶金,電氣 |
FPD/LSI檢查顯微鏡 ECLIPSE L300ND、L300N和L200ND、L200N
這一系列的顯微鏡是檢查硅片、顯示屏等大型樣品的理想選擇。
用于檢查大型樣品的高級顯微鏡
采用尼康CFI60-2光學(xué)系統設計,成像清晰;可搭配數碼相機。
尼康ECLIPSE L300N(D)和L200N(D)
用于硅片(L200N系列為200mm,L300N系列為300mm)、分劃板和其它大型平板類(lèi)電子零部件的光學(xué)檢查。
尼康CFI60-2光學(xué)系列
尼康的創(chuàng )新設計,支持實(shí)現清晰的、高對比度的明場(chǎng)、暗場(chǎng)、熒光、偏光(POL)、微分干涉(DIC)鏡檢,以及雙光束干涉測量。
尼康Digital Sight數碼相機
尼康全系列Digital Sight數碼相機都能高效地進(jìn)行拍照,并可將當前在用物鏡、倍率轉換設置和照明光亮度等參數一起傳送到NIS-Elements顯微鏡圖像處理軟件中。
L200N與NWL200聯(lián)合使用
在半導體行業(yè)中得到廣泛認可和信任,目前有許多裝置在使用。
產(chǎn)品亮點(diǎn)
尼康CFI60-2光學(xué)系統
尼康的創(chuàng )新設計光學(xué)系統成像清晰,支持多種顯微鏡鏡檢。
反射照明下可選擇的鏡檢方式有:明場(chǎng)、暗場(chǎng)、偏光(POL)、微分干涉(DIC)、熒光和雙光束干涉;
多種鏡檢方式
透射照明下可選擇的鏡檢方式有:明場(chǎng)、暗場(chǎng)、偏光(POL)、微分干涉(DIC)和相差。
數字化智能通信
顯微鏡通過(guò)USB與尼康NIS Elements軟件相連,可檢查并控制物鏡轉換、照明亮度、光闌動(dòng)作等。
人體工學(xué)設計
使用傾角可調的目鏡筒,可使操作者更為舒適地觀(guān)察樣品,消除疲勞。
主要用于觀(guān)察原材料、半導體和工業(yè)零部件。
核心功能
行業(yè)
主要用途集中在電子通訊領(lǐng)域的零部件檢查,如硅片、液晶顯示屏等。反射熒光*可用來(lái)有效地檢查光刻膠殘留,檢查有機EL顯示屏。
*僅L300N/L300ND/L200ND
技術(shù)規格:
產(chǎn)品咨詢(xún)
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